卓越質(zhì)量日本SANKO山高膜厚計SM-Pen SM-Pen
日本SANKO山高膜厚計SM-Pen，日本SANKO山高膜厚計SM-Pen，日本SANKO山高膜厚計SM-Pen 產(chǎn)品詳細介紹 SM-Pen 筆形探頭、可測量小的零件 (下單生產(chǎn)) 探頭安裝的是極細的磁極，筆形探頭。 測量小的零件，狹小的地方。 規(guī) 格 測量范圍 0～300µm 0～5mm (
- 型號： 卓越質(zhì)量日本SANKO山高膜厚計SM-Pen SM-Pen
日本SANKO山高膜厚計SM-Pen，日本SANKO山高膜厚計SM-Pen，日本SANKO山高膜厚計SM-Pen
產(chǎn)品詳細介紹
SM-Pen 筆形探頭、可測量小的零件 (下單生產(chǎn))
探頭安裝的是極細的磁極，筆形探頭。
測量小的零件，狹小的地方。
規(guī) 格
測量范圍 0～300µm 0～5mm (2排刻度)
測量精度 均一面上±2µm顯示值的±5%
探 頭 1極接觸式 附帶伸縮手柄、φ25×30mm、
手柄:分5段伸縮、最長為1.5mm
電 源 DC:單2電池（1.5V）×4
使用溫度 0～40°（不結(jié)露）
尺寸重量 170（W)×130（H）×80（D)mm、1.7kg
附 屬 品 標準校正板、收納袋子
SANKO山高產(chǎn)品型號大全：
膜厚計、測定器
膜厚計-電磁式，渦流式
SWT-9000，SWT-9100，SWT-9200，SWT-9300，SAMAC-FN，SAMAC-Pro
膜厚計-電磁式
CTR-2000 III，TL-50，SM-Pen，SWT-9000F，SAMAC-F，SP-3300D，Pro-1，Pro-2，SL-120C，SL-200E
膜厚計-渦流式
SWT-9000N
超聲波膜厚計
ULT-5000，UDM-550V，SF-1150，
探頭-電磁感應(yīng)式
Fe-2.5，F(xiàn)e-2.5L，F(xiàn)e-2.5LwA，F(xiàn)e-10，F(xiàn)e-0.6，F(xiàn)e-20，F(xiàn)e-0.6Pen，SL-5P
探頭-渦流式
NFe-2.0，NFe-2.0L，NFe-0.6，NFe-8，F(xiàn)N-325
硬度計
318/318S，232，
表面鹽分計
SNA-3000，
光澤計
SG-6，SG-268
環(huán)境監(jiān)測計SE-250，SE-250D